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日本日立掃描探針顯微鏡控制器概述

AFM5000Ⅱ工作站采用全新的圖標用戶界面，標準配備參數自動設置功能(RealTune® II)，即使是剛剛接觸SPM的初學者或者遇到全新的樣品時，也能快速獲得準確的測量數據。

• 圖標說明

• * RealTune是日立高新技術公司在日本的注冊商標

日本日立掃描探針顯微鏡控制器特點
1. RealTune® II　樶新的參數自動設置功能

• *的參數自動設置功能！
  RealTune® II可預測并調整懸臂的振動振幅、動作頻率等主要參數，可以根據樣品表面的形貌、掃描范圍、掃描速度以及使用的懸臂的狀況，高效率、高精度地調整成合適的測量條件。
• 通過新增加的參數自動設置功能（RealTune® II），可實現一鍵（One Click）測量。
  原來需要專業操作才能完成的測量，現在即便是新手也可以輕松勝任。
• 也可用于高難度樣品。

【實例1】纖維狀的碳納米管結構體（壁虎膠帶）
【樣品提供：日東電工股份公司】

以往的方法這些樣品需要對參數進行精細的調整，操作難度很高，并且柔軟的纖維易變形產生皺痕。

新處理方法

自動設置成合適的條件，可在復雜的纖維結構不變形的情況下進行精zhun測量。

【實例2】用于有機薄膜晶體管的多結晶薄膜（并五苯多結晶薄膜）
【樣品提供：神戶大學北村研究室】

以往的方法這種樣品，表面容易損壞，易產生皺痕、臺階的輪廓也不明顯。

新處理方法

自動設置成合適的條件，穩定地測量分子級別上的臺階結構。

2. 全新的圖標用戶界面（Graphical Use Interface）
簡單的菜單設置

• 明了易懂的圖標、嚴格篩選的圖片信息，無論是初學者還是有經驗的操作員，都能夠輕松掌控！
• 可通過選項卡在測量及分析之間相互切換，畫面簡潔明了。

3. 3D覆蓋功能

能夠將樣品形貌及物理特性疊加顯示，并能構畫出3D畫面，可以通過視覺感受表示樣品的物理特性。

4. 凹凸分析、剖面輪廓分析功能

5. 小型化設計

輕便的小型化外形，適合各種場地擺放。
220 mm(W)×500 mm(D)×385 mm(H)、約15 kg

能夠將樣品形貌及物理特性疊加顯示，并能構畫出3D畫面，可以通過視覺感受表示樣品的物理特性。